[实用新型]一种微焦斑光源参数测量透镜及测量系统有效
| 申请号： | 202020140785.3 | 申请日： | 2020-01-21 |
| 公开（公告）号： | CN212410022U | 公开（公告）日： | 2021-01-26 |
| 发明（设计）人： | 王亚冰;孙天希;邵尚坤;孙学鹏 | 申请（专利权）人： | 北京师范大学 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G03B42/02 |
| 代理公司： | 北京名华博信知识产权代理有限公司 11453 | 代理人： | 胡丹 |
| 地址： | 100875 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开披露一种微焦斑光源参数测量透镜及测量系统，该系统包括：X射线聚焦镜，设置于待测量的X射线光源之后，并使所述X射线在其中进行单次全反射；X射线探测器，设置于所述X射线聚焦镜之后，配置有用于调节器件同轴的多维度调节架；所述X射线探测器用于探测经所述X射线聚焦镜全反射的X射线的能量；光束阻挡器，设置于所述X射线探测器之前，用于阻挡通过所述X射线聚焦镜的直通光；数据处理器，与所述X射线探测器连接，用于获取所述X射线探测器的测量数据，并结合测量系统的基础参数数据，调用预设的参数计算公式，计算得到微焦斑光源参数。通过实施本公开的技术方案，能够同时、并且准确地测量及计算得到光源焦斑和焦深。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 微焦斑 光源 参数 测量 透镜 系统 | ||
【主权项】：
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