[实用新型]一种可校正阵列非均匀性的焦平面探测器读出电路有效
申请号: | 202020155508.X | 申请日: | 2020-02-07 |
公开(公告)号: | CN211824731U | 公开(公告)日: | 2020-10-30 |
发明(设计)人: | 徐翰纶;王正来;徐新民;吴惠桢 | 申请(专利权)人: | 浙江大学 |
主分类号: | G01J1/44 | 分类号: | G01J1/44;G01J5/24 |
代理公司: | 杭州中成专利事务所有限公司 33212 | 代理人: | 李亦慈;唐银益 |
地址: | 310058 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型公开一种可校正阵列非均匀性的焦平面探测器读出电路,该电路包括控制芯片、多路复用模块和放大处理模块。多路复用模块包括多个横向多路复用器和多个纵向多路复用器,放大处理模块包括运算放大器、差分放大器和数模转换器,控制芯片输出低电平信号至各个多路复用器以通过多路复用器选择通路,纵向多路复用器输出探测器光电信号至运算放大器和差分放大器,差分放大器输出放大之后的电信号至控制芯片以采集探测器的光电信号。本实用新型可以实现在阵列像元响应度不均一的情况下,通过改变对应像元参考电压的方式校正阵列输出电压的不均匀性。该电路设计简洁,无需图像处理程序,成本低,速度快。 | ||
搜索关键词: | 一种 校正 阵列 均匀 平面 探测器 读出 电路 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浙江大学,未经浙江大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202020155508.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种泌尿外科护理用冲洗装置
- 下一篇:一种煤矿开采用通风换气装置