[实用新型]芯片测试电路有效
| 申请号： | 202020156831.9 | 申请日： | 2020-02-06 |
| 公开（公告）号： | CN211905587U | 公开（公告）日： | 2020-11-10 |
| 发明（设计）人： | 张悦 | 申请（专利权）人： | 合肥悦芯半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 唐正瑜 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市经济*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请实施例提供了一种芯片测试电路，芯片测试电路包括：现场可编程逻辑门阵列FPGA、判断单元以及多个信号控制单元，FPGA分别与判断单元以及多个信号控制单元电连接，判断单元与多个信号控制单元电连接；多个信号控制单元中的每个信号控制单元均用于在FPGA的控制下为待测芯片供电以及从待测芯片获取待测电信号；判断单元用于接收多个信号控制单元中每个信号控制单元的电路检测电信号，并对其是否处在正常范围进行判断。本申请实施例提供的芯片测试电路可以在为多个待测芯片供电时，同时从多个待测芯片获取待测电信号，从而可以对多个待测芯片同时进行测试，与现有技术相比，负载待测芯片的能力较强，且测试效率较高。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 电路 | ||
【主权项】：
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