[实用新型]制备低内应力区熔用电子级多晶硅的系统有效

专利信息
申请号: 202020217188.6 申请日: 2020-02-26
公开(公告)号: CN212175076U 公开(公告)日: 2020-12-18
发明(设计)人: 吴锋;李明峰;赵培芝;高召帅;韩锋 申请(专利权)人: 江苏鑫华半导体材料科技有限公司
主分类号: C30B25/00 分类号: C30B25/00;C30B29/06;C23C16/24;C23C16/455;C23C16/52;C30B13/00
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 肖阳
地址: 221004 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了制备低内应力区熔用电子级多晶硅的系统。该低内应力制备区熔用电子级多晶硅的系统包括:多晶硅还原炉,所述多晶硅还原炉内设有底板、多个石墨夹头、多对硅棒,所述硅棒通过所述石墨夹头设在所述底板上;所述多对硅棒包括多对内圈硅棒和多对外圈硅棒,每对所述硅棒包括1个横梁和2个棒体;多个内圈硅棒棒径检测单元,所述内圈硅棒棒径检测单元与所述内圈硅棒相连;三氯氢硅‑氢气进料管线,所述三氯氢硅‑氢气料管线与所述多晶硅还原炉相连;多个二氯二氢硅‑氢气进料喷口,所述二氯二氢硅‑氢气进料喷口布置在所述内圈硅棒的横梁与所述底板中心的连线上。该系统可以产出内应力较小区熔用电子级多晶硅产品。
搜索关键词: 制备 内应力 用电 多晶 系统
【主权项】:
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