[实用新型]一种多径环境下RFID标签性能测试装置有效
| 申请号： | 202020233893.5 | 申请日： | 2020-03-02 |
| 公开（公告）号： | CN211955691U | 公开（公告）日： | 2020-11-17 |
| 发明（设计）人： | 黄钰;蒙秀耀;章学周;胡冶;李远朝;金玮;邵晖 | 申请（专利权）人： | 上海聚星仪器有限公司;江苏省质量和标准化研究院 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 上海正旦专利代理有限公司 31200 | 代理人： | 张磊 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区张东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种多径环境下RFID标签性能测试装置，由接收天线、射频接收器、测量与应答处理器、多径模拟器、射频发射器、发射天线和标签组成，接收天线输入端接收标签反射无线电波，输出端通过馈线连接射频接收器输入端，射频接收器输出端连接测量与应答处理器输入端，测量与应答处理器输出端连接多径模拟器输入端，多径模拟器输出端连接射频发射器输入端，射频发射器输出端连接发射天线输入端，发射天线输出端连接标签输入端。本实用新型解决了传统RFID标签性能测试仪器无法分析标签在多径环境下的通信性能的问题，该实用新型可用于协助研究RFID标签的抗干扰技术。该实用新型由模块化仪器构成，系统的升级更换与维修非常方便。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 环境 rfid 标签 性能 测试 装置 | ||
【主权项】：
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