[实用新型]一种用于薄膜检测的微米级调节装置有效

专利信息
申请号: 202020353551.7 申请日: 2020-03-19
公开(公告)号: CN212083272U 公开(公告)日: 2020-12-04
发明(设计)人: 张杨;徐程松;刘伟雄;曾来荣;肖伟 申请(专利权)人: 绵阳人众仁科技有限公司
主分类号: G01N22/04 分类号: G01N22/04;G01B17/02;G01B7/14
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 621000 四川省绵阳市涪城区*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 实用新型公开了一种用于薄膜检测的微米级调节装置,属于薄膜检测领域。包括传输框架、设置在传输框架顶端的上固定架以及设置在传输框架底端的下固定架;上固定架包括设置在传输框架顶端并与传输框架滑动连接的上安装板、设置在上安装板底侧的多组上支架板、设置在上支架板上并与上支架板铰接的上挂耳板、设置在上挂耳板底侧的上导纸板以及设置在上导纸板内侧的上谐振腔;本实用新型通过不同位置的上固定孔与上角度调节孔配合进行微米级的角度调节,完成谐振腔上下断面与纸张的角度调节,提高了调节精度以及微波测量过程中的测量精度。
搜索关键词: 一种 用于 薄膜 检测 微米 调节 装置
【主权项】:
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