[实用新型]一种半导体器件检测用四探针测试仪有效
| 申请号： | 202020392377.7 | 申请日： | 2020-03-25 |
| 公开（公告）号： | CN211905462U | 公开（公告）日： | 2020-11-10 |
| 发明（设计）人： | 卫静婷;陈利伟 | 申请（专利权）人： | 广东开放大学（广东理工职业学院） |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073;G01R31/26 |
| 代理公司： | 深圳市鼎泰正和知识产权代理事务所(普通合伙) 44555 | 代理人： | 周小涛 |
| 地址： | 510030 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种半导体器件检测用四探针测试仪，包括测试仪本体，所述测试仪本体上端中部固定连接有等距分布的减震弹簧，所述测试仪本体左右两侧上端均固定连接有卡块，所述测试仪本体上端活动连接有测试架底板，所述测试架底板上端固定连接有左右对称设置的垂直侧板，所述垂直侧板和另一垂直侧板间固定连接有顶板，所述顶板上开设有螺纹孔，所述螺纹孔内螺纹连接有丝杆，所述丝杆下端转动连接有固定座，所述固定座下端固定连接有安装座。该半导体器件检测用四探针测试仪，提高装置的稳定性，缩小装置占地面积，进一步提高测试仪本体与测试架底板间连接的牢固性，提高测试架底板的减震效果，有效提高安装座上下移动时的平稳性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体器件 检测 探针 测试仪 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广东开放大学（广东理工职业学院），未经广东开放大学（广东理工职业学院）许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202020392377.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种集成灶用组合式风轮
- 下一篇：一种掘进机用高强度支撑杆
