[实用新型]一种nand flash储存芯片测试治具有效
| 申请号： | 202020585189.6 | 申请日： | 2020-04-17 |
| 公开（公告）号： | CN211699725U | 公开（公告）日： | 2020-10-16 |
| 发明（设计）人： | 黄辉 | 申请（专利权）人： | 深圳市芯片测试技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种nand flash储存芯片测试治具，包括治具主体，所述治具主体上设置有两个测试槽，所述测试槽内设置有与nand flash储存芯片的引脚相对应的测试触点，所述测试槽的上方设置有定位支架，所述定位支架上螺纹连接有定位螺杆，所述定位螺杆的底端连接有橡胶块，所述橡胶块与所述nand flash储存芯片之间设置有定位板，所述定位螺杆带动所述橡胶块下降，所述橡胶块通过所述定位板对所述nand flash储存芯片施加向下的力，进而使得全部的引脚与所述测试触点相接触，方便相应的检测设备对所述nand flash储存芯片进行检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 nand flash 储存 芯片 测试 | ||
【主权项】：
暂无信息
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