[实用新型]芯片双重定位装置有效
申请号: | 202020598651.6 | 申请日: | 2020-04-21 |
公开(公告)号: | CN212468878U | 公开(公告)日: | 2021-02-05 |
发明(设计)人: | 袁宇锋;吴华;朱元庆 | 申请(专利权)人: | 南通芯盟测试研究院运营管理有限公司 |
主分类号: | B07C5/00 | 分类号: | B07C5/00;B07C5/34;B07C5/02;G06K9/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 226010 江苏省南通市开发区*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型的芯片双重定位装置,具有控制器、真空吸头、测试台、上摄像头和下摄像头。上摄像头拍摄芯片的上表面图像,传送给控制器,与其内置的视觉软件识别图像判断芯片的方向是否正确。优选吸头端面中心设置上摄像头;下摄像头设置在测试台的下方。本实用新型的上下摄像头同时检测芯片的上下表面有无问题,这样获得的芯片的外观正品率很高。 | ||
搜索关键词: | 芯片 双重 定位 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南通芯盟测试研究院运营管理有限公司,未经南通芯盟测试研究院运营管理有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202020598651.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:膜架水平调节装置
- 下一篇:基于梯度磁场的电流测量装置