[实用新型]涂层测厚仪的探头结构有效
| 申请号： | 202020749580.5 | 申请日： | 2020-05-09 |
| 公开（公告）号： | CN212363155U | 公开（公告）日： | 2021-01-15 |
| 发明（设计）人： | 张小强 | 申请（专利权）人： | 深圳市维创兴电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/08 | 分类号： | G01B21/08 |
| 代理公司： | 深圳知帮办专利代理有限公司 44682 | 代理人： | 李赜 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种涂层测厚仪的探头结构，包括机体，所述机体上方连接有导线，所述导线另一端连接有检测探头，所述导线外部套设有柔性套管，所述柔性套管一端与机体上方固定连接，所述柔性套管另一端与检测探头固定连接，所述柔性套管内还设有伸缩杆，所述伸缩杆一端固定于机体上方，所述伸缩杆另一端设有把手，所述把手延伸出柔性套管，所述柔性套管沿表面开设有滑动槽，所述把手设置于滑动槽内。本实用新型提供了一种涂层测厚仪的探头结构，能够满足人们通过不同的方式利用探头进行检测，从而满足在不同环境下对涂层测厚仪的使用。 | ||
| 搜索关键词： | 涂层 测厚仪 探头 结构 | ||
【主权项】：
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