[实用新型]一种霍尔芯片磁通量测试装置有效
| 申请号： | 202020812714.3 | 申请日： | 2020-05-15 |
| 公开（公告）号： | CN212229141U | 公开（公告）日： | 2020-12-25 |
| 发明（设计）人： | 娄战军;岳树栋;樊永红;樊玲瑜;卫松华 | 申请（专利权）人： | 新乡市源野电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R33/07 | 分类号： | G01R33/07 |
| 代理公司： | 郑州万创知识产权代理有限公司 41135 | 代理人： | 任彬 |
| 地址： | 453000 河南省新*** | 国省代码： | 河南;41 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型属于磁通量测试设备技术领域，尤其为一种霍尔芯片磁通量测试装置，针对现有的霍尔芯片磁通量测试装置难以将芯片间歇性运入和运出测试工位、导致测试效率较低且测试精确度较差的问题，现提出如下方案，其包括底座和测试组件，测试组件固定安装在底座顶部一侧，所述底座顶部开设有圆形槽和两个方形槽，圆形槽内转动安装有圆盘，圆盘顶部固定连接有竖轴的一端，竖轴顶端固定安装有转盘，转盘顶部开设有多个通孔，多个通孔一侧内壁上均固定连接有压紧弹簧的一端。本实用新型结构设计合理，便于将霍尔芯片间歇性运入和运出测试设备且每次运输的距离相等，从而提高测试效率的同时保证测试精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 霍尔 芯片 磁通量 测试 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于新乡市源野电子股份有限公司，未经新乡市源野电子股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202020812714.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种节能型污泥处理系统
- 下一篇：一种转角式包装机
