[实用新型]一种半导体功率器件结构有效

专利信息
申请号: 202020826199.4 申请日: 2020-05-18
公开(公告)号: CN211743165U 公开(公告)日: 2020-10-23
发明(设计)人: 黄健;孙闫涛;顾昀浦;宋跃桦;吴平丽;樊君;张丽娜 申请(专利权)人: 捷捷微电(上海)科技有限公司
主分类号: H01L29/872 分类号: H01L29/872;H01L21/329
代理公司: 深圳市创富知识产权代理有限公司 44367 代理人: 曾敬
地址: 200120 上海市浦东新区*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型公开了一种半导体功率器件结构,包括第一导电类型的衬底及位于衬底上的第一导电类型的外延层,外延层内设置有沟槽,沟槽中填充有栅极多晶硅和浮栅多晶硅,栅极多晶硅与沟槽的侧壁隔离有隔离氧化层,栅极多晶硅与浮栅多晶硅之间隔离有阻挡氧化层,浮栅多晶硅与沟槽的侧壁及底壁隔离有栅氧化层。本实用新型通过在栅极多晶硅底部设置浮栅多晶硅,使得器件反向工作时,正电荷以隧道效应穿过栅氧化层存储到浮栅多晶硅内,达到降低等效阈值电压Vth的目的,以便显著降低器件的正向电压Vf;通过设置栅氧化层‑浮栅多晶硅‑阻挡氧化层的多层浮栅结构,增加了寄生电容的介质厚度,降低了寄生电容,提高了器件的开关速度。
搜索关键词: 一种 半导体 功率 器件 结构
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