[实用新型]一种ADC性能测试电路、芯片和设备有效
| 申请号： | 202020838663.1 | 申请日： | 2020-05-19 |
| 公开（公告）号： | CN212301773U | 公开（公告）日： | 2021-01-05 |
| 发明（设计）人： | 孙庆凯;陶明;吴忠洁 | 申请（专利权）人： | 上海灵动微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317;G01R31/3181 |
| 代理公司： | 上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙) 31251 | 代理人： | 郭桂峰 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区中国（上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种ADC性能测试电路、芯片和设备，其电路包括：测试模块，放置有待测芯片，用于接入对应ADC通道所输入的测试信号至所述待测芯片进行测试，并将产生的测试数据先从ADC通道的数据寄存器存储到数组中，再将数组中的测试数据搬运到第一储存模块；控制模块，与所述测试模块连接，用于读取所述第一储存模块储存的所述测试数据进行处理得到所述待测芯片的静态参数和动态参数。本实用新型解决数据实时存储困难的问题，并实现了数据储存稳定，准确高效的效果，以及有效可靠地自动化测试ADC的动态参数和静态参数。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 adc 性能 测试 电路 芯片 设备 | ||
【主权项】：
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