[实用新型]非挥发性存储器芯片的可靠性测试装置有效
| 申请号： | 202020884584.4 | 申请日： | 2020-05-22 |
| 公开（公告）号： | CN212032656U | 公开（公告）日： | 2020-11-27 |
| 发明（设计）人： | 郑彦磊;朱笑鶤 | 申请（专利权）人： | 上海鑫匀源科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 上海欣创专利商标事务所 31217 | 代理人： | 包宇霆 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区中国*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种非挥发性存储器芯片的可靠性测试装置，该装置其包括：中控板系统、可控电源系统、上位机软件系统、显示系统以及控温系统；其中：所述中控板系统分别与所述上位机软件系统、所述显示系统以及所述可控电源系统连接；其中：所述控温系统包括高温箱和低温箱。本实用新型通过设计一种中控板系统、可控电源系统、上位机软件系统、显示系统以及控温系统相互集成的装置，降低NVM产品的可靠性测试需要投入大量的硬件成本和时间成本。 | ||
| 搜索关键词： | 挥发性 存储器 芯片 可靠性 测试 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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