[实用新型]老化测试设备及其加热组件有效
| 申请号： | 202020939037.1 | 申请日： | 2020-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN212658771U | 公开（公告）日： | 2021-03-05 |
| 发明（设计）人： | 李志雄;李光裕;燕祖德;王平;李小强 | 申请（专利权）人： | 深圳市江波龙电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;H05B3/14 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 袁江龙 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山区科发路8*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开一种老化测试设备及其加热组件，该加热组件包括控制板、发热件和传热件，控制板上设有控制线路；发热件与控制板电连接，发热件用于在控制板的控制下发热；传热件与发热件接触并能够与发热件进行热传导，传热件用于与待测芯片接触，以加热待测芯片。通过设置能够与发热件进行热传导的传热件，可以使用传热件抵接待测芯片以对待测芯片进行加热，相比于现有的高温老化测试设备，本申请中的加热组件可以很好的与现有的常温测试用底座兼容，故而，可以节约成本，并可以节约空间，同时也可以提升待测芯片的检测效率，并且本申请中的发热件的热量直接作用于待测芯片，热量的利用率高，且发热件所需的功率较小，可以极大得节省检测成本。 | ||
| 搜索关键词： | 老化 测试 设备 及其 加热 组件 | ||
【主权项】：
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