[实用新型]一种低电阻测试结构有效
申请号: | 202021047097.9 | 申请日: | 2020-06-09 |
公开(公告)号: | CN212622699U | 公开(公告)日: | 2021-02-26 |
发明(设计)人: | 张利荣;陈建保;杨娟 | 申请(专利权)人: | 鸿硕精密电工(苏州)有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R31/00 |
代理公司: | 苏州名飞扬知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32290 | 代理人: | 杨林 |
地址: | 215000 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种低电阻测试结构,包括基座板和垂直固定于基座板上的立板,立板的正面固定有下压气缸,下压气缸的输出端作用于压板,压板两端均通过导向柱滑动设有上高导电金属块,且上高导电金属块与压板之间设有簧柱,基座板上在压板下侧设有固定座,固定座上与上高导电金属块对应的设有下高导电金属块,用于设置待测式产品。本实用新型结构简洁合理,产品的线接触改为面接触,有效的增大了测试面积,且测试过程固定稳定可靠,测试数据准确性高。 | ||
搜索关键词: | 一种 电阻 测试 结构 | ||
【主权项】:
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