[实用新型]一种低电阻测试结构有效

专利信息
申请号: 202021047097.9 申请日: 2020-06-09
公开(公告)号: CN212622699U 公开(公告)日: 2021-02-26
发明(设计)人: 张利荣;陈建保;杨娟 申请(专利权)人: 鸿硕精密电工(苏州)有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R31/00
代理公司: 苏州名飞扬知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32290 代理人: 杨林
地址: 215000 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种低电阻测试结构,包括基座板和垂直固定于基座板上的立板,立板的正面固定有下压气缸,下压气缸的输出端作用于压板,压板两端均通过导向柱滑动设有上高导电金属块,且上高导电金属块与压板之间设有簧柱,基座板上在压板下侧设有固定座,固定座上与上高导电金属块对应的设有下高导电金属块,用于设置待测式产品。本实用新型结构简洁合理,产品的线接触改为面接触,有效的增大了测试面积,且测试过程固定稳定可靠,测试数据准确性高。
搜索关键词: 一种 电阻 测试 结构
【主权项】:
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