[实用新型]半导体封装测试业专用的快速合盘器有效

专利信息
申请号: 202021050163.8 申请日: 2020-06-09
公开(公告)号: CN212257368U 公开(公告)日: 2020-12-29
发明(设计)人: 李恊松;张传益;刘松;柏永生;袁俊;郑朝生;卢旭坤;张亦锋;辜诗涛 申请(专利权)人: 广东利扬芯片测试股份有限公司
主分类号: H01L21/683 分类号: H01L21/683
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 张艳美;莫建林
地址: 523000 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种半导体封装测试业专用的快速合盘器包括吸附件和抽气管,吸附件内具有中空的吸附腔体,抽气管与吸附腔体连通,吸附件的左侧向下延伸形成左限位块,吸附件的右侧向下延伸形成右限位块,借由左限位块和右限位块使得吸附件可与料盘配合,吸附件向下延伸形成与吸附腔体连通的吸嘴,吸嘴位于左限位块与右限位块之间,吸附件上开设有与吸附腔体连通的泄压孔,借由封堵或打开泄压孔使得吸嘴可吸附或放置待吸附件。本实用新型的半导体封装测试业专用的快速合盘器能够有效提高凑盘效率和减少生产成本,并具有结构简单的优点。
搜索关键词: 半导体 封装 测试 专用 快速 合盘器
【主权项】:
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