[实用新型]一种半导体陶瓷电容器击穿电压的测试夹具有效
| 申请号： | 202021115471.4 | 申请日： | 2020-06-16 |
| 公开（公告）号： | CN212459936U | 公开（公告）日： | 2021-02-02 |
| 发明（设计）人： | 蒋小明 | 申请（专利权）人： | 陕西华星电子开发有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/16 | 分类号： | G01R31/16;G01R1/04 |
| 代理公司： | 西安泛想力专利代理事务所(普通合伙) 61260 | 代理人： | 石琳丹 |
| 地址： | 712034 陕西省西安市西咸新区*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种半导体陶瓷电容器击穿电压的测试夹具，属于电子陶瓷技术领域。该测试夹具包括：多个测试针、导电板、固定板和波段开关；固定板连接在导电板上；测试针均活动连接在固定板上；测试针均通过连接导线与波段开关的不同档位连接。在本实用新型中，设置多个测试针、导电板、固定板和波段开关，将多个半导体陶瓷电容器银片夹在不同的测试针与导电板之间，通过击穿电压测试仪可以一次测试多个产品，并且也可以检测不带引线的半导体陶瓷电容器银片，从而提高了检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 陶瓷 电容器 击穿 电压 测试 夹具 | ||
【主权项】：
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