[实用新型]自动化测试系统有效
| 申请号： | 202021129984.0 | 申请日： | 2020-06-17 |
| 公开（公告）号： | CN212569021U | 公开（公告）日： | 2021-02-19 |
| 发明（设计）人： | 陈冬冬 | 申请（专利权）人： | 合肥移瑞通信技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 王佳璐 |
| 地址： | 230088 安徽省合肥市高新区习友路33*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种自动化测试系统，用于对半导体器件的引脚进行测试，自动化测试系统包括：数字电桥模块和控制模块；数字电桥模块的输入端，与半导体器件的引脚连接，用于检测半导体器件引脚的结电容；数字电桥模块的输出端与控制模块的输入端连接，以将半导体器件引脚的结电容同步给控制模块；控制模块，用于根据获取的半导体器件引脚的结电容，确定半导体器件的引脚是否损伤。该自动化测试系统能够通过数字电桥模块，检测半导体引脚的结电容，实现半导体器件引脚的非功能性的微损伤测试，且提高了测试效率，有利于保证半导体器件的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 自动化 测试 系统 | ||
【主权项】：
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