[实用新型]一种温度冲击箱有效
| 申请号： | 202021158590.8 | 申请日： | 2020-06-19 |
| 公开（公告）号： | CN212758653U | 公开（公告）日： | 2021-03-23 |
| 发明（设计）人： | 孟沛泽 | 申请（专利权）人： | 北京华芯微半导体有限公司 |
| 主分类号： | B01L1/00 | 分类号： | B01L1/00;B01L7/00;G01N3/60 |
| 代理公司： | 北京维正专利代理有限公司 11508 | 代理人： | 孙铭侦 |
| 地址： | 100089 北京市海淀区上*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种温度冲击箱，涉及电子实验设备的技术领域。其技术要点是：包括箱体，所述箱体的一侧的侧面开设有门体，所述箱体与所述门体相对的侧面上滑动连接有滑动板，所述滑动板一端设有滑动机构，所述箱体上与所述门体相对的一侧设有加热装置与制冷装置，所述加热装置与所述制冷装置的放置方向与所述滑动板的滑动方向平行。本装置设置滑动机构带动滑动板在加热装置与制冷装置之间移动，通过改变滑动板位置从而改变加热装置及制冷装置与箱体之间的连通状态，从而控制箱体内的温度，使得对芯片检测时不需移动芯片，提高工作过程中的稳定性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 温度 冲击 | ||
【主权项】：
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