[实用新型]大功率MOSFET器件有效

专利信息
申请号: 202021216864.4 申请日: 2020-06-28
公开(公告)号: CN212342639U 公开(公告)日: 2021-01-12
发明(设计)人: 陈译;陆佳顺;杨洁雯 申请(专利权)人: 苏州硅能半导体科技股份有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/423
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人: 马明渡;王健
地址: 215000 江苏省苏州市苏州工业*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开一种大功率MOSFET器件,包括:位于硅片下部的重掺杂N型漏极层和位于硅片上部的P型掺杂阱层,所述硅片中部且位于重掺杂N型漏极层和P型掺杂阱层之间具有一N型掺杂外延层;一位于P型掺杂阱层内的沟槽延伸至N型掺杂外延层内,位于P型掺杂阱层上部内且位于沟槽的周边具有重掺杂N型源极区,一绝缘介质层覆盖于沟槽、重掺杂N型源极区和P型掺杂阱层上表面;所述沟槽侧壁和底部具有一第一二氧化硅层,且沟槽内间隔设置有用第一导电多晶硅柱、第二导电多晶硅柱。本实用新型减小了器件工作时候的开关损耗,有效抑制了器件的误开启。
搜索关键词: 大功率 mosfet 器件
【主权项】:
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