[实用新型]一种微型激光芯片老化测试系统有效
| 申请号： | 202021232990.9 | 申请日： | 2020-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN212433335U | 公开（公告）日： | 2021-01-29 |
| 发明（设计）人： | 林辉 | 申请（专利权）人： | 武汉普斯讯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人： | 傅海鹏 |
| 地址： | 436070 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种微型激光芯片老化测试系统，涉及微型激光器测试领域，其包括上电模块、温控模块和机架模块，所述上电模块、温控模块均安装于所述机架模块上，所述温控模块包括设置于机架模块上的风扇、温控器、显示器、温控开关和多个老化子箱，老化子箱内设置有微型激光芯片，所述风扇、温控器、显示器、温控开关和多个老化子箱相互电连接；所述温控模块用于控制各个老化子箱的温度；所述上电模块用于为各个老化子箱中的微型激光芯片供电。整个系统能够用于对不同规格型号的微型激光芯片的老化测试，且能够在多个通道集中进行老化测试，同时，操作方便、价格低廉。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 微型 激光 芯片 老化 测试 系统 | ||
【主权项】：
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