[实用新型]测试结构

摘要

本申请提供了一种测试结构，该测试结构不包括开关，该测试结构包括：待测试结构，包括多个依次串联的待测试器件组，各待测试器件组包括多个并联的待测试的阻变器件；两个测试电极，分别为第一测试电极和第二测试电极，第一测试电极与待测试结构的一端电连接，第二测试电极与待测试结构的另一端电连接，从而同时检查多个待测试的阻变器件，提高了测试效率，并且测试结构不包括开关，降低了测试成本，并且一个待测试的阻变器件失效会导致待测试结构的阻值大幅降低，使得测试结构对机台精度要求低，进而解决了现有技术中的测试MTJ的方法难以同时达到测试效率高、测试成本较低且对机台精度要求低的问题。