[实用新型]一种用于扫描电子显微镜试样高度预调整的工具有效
| 申请号： | 202021277234.8 | 申请日： | 2020-07-03 |
| 公开（公告）号： | CN213041763U | 公开（公告）日： | 2021-04-23 |
| 发明（设计）人： | 张大梁;韦旎妮;娄宏刚 | 申请（专利权）人： | 重庆市展未微科技服务有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/2251 | 分类号： | G01N23/2251;G01N23/2204 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 400030 重庆市沙坪坝区*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及电子显微镜技术领域，具体地说，涉及一种用于扫描电子显微镜试样高度预调整的工具，包括底座，底座的顶部设置有载台，底座的一侧竖直安装有固定标尺，固定标尺为顶部开口且内部中空结构，固定标尺的顶部插接有延长段，延长段和固定标尺的外壁均设置有刻度线，底座的中心处开设有插孔，载台包括固定座，固定座为圆柱体结构且底端与插孔插接配合，固定座的内部为中空结构且顶部开口，固定座的顶部设置有螺纹杆。该用于扫描电子显微镜试样高度预调整的工具能够带动平台上下移动，能够对平台的高度进行上下微调，保证上下移动的精准，能够保证平台升降稳定不会晃动，能够实现对样品高度的精确识别，便于控制显微镜与样品间的距离。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 扫描 电子显微镜 试样 高度 调整 工具 | ||
【主权项】：
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