[实用新型]一种可用于板卡低温故障定位的测试设备

摘要

本实用新型公开了一种可用于板卡低温故障定位的测试设备，包括支撑底座及相应结构件和控制盒两部分，所述支撑底座用于通过步进电机调整位置，实现将半导体制冷片固定到待测试板卡的需要降温的芯片位置，所述控制盒通过继电器模块控制半导体制冷片的制冷时间控制制冷温度，通过温度传感器采集制冷温度，实现制冷温度闭环调节；本实用新型的有益效果是：对半导体制冷片进行输出温度控制，通过半导体制冷片进行待测试板卡的芯片局部降温，用于判断是哪颗芯片受温度影响故障导致的板卡故障，便于快速故障定位。