[实用新型]一种方便调节的半导体生产加工用检测治具有效

专利信息
申请号: 202021454219.6 申请日: 2020-07-22
公开(公告)号: CN212750808U 公开(公告)日: 2021-03-19
发明(设计)人: 卢绍宾 申请(专利权)人: 昆山永芯禾光电科技有限公司
主分类号: H01L21/66 分类号: H01L21/66;B08B17/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215300 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种方便调节的半导体生产加工用检测治具,包括检测主体,所述检测主体的前表面底部装设有显示屏,所述检测主体的一侧转动装设有手柄,所述检测主体的一侧开设有一体式的转座,所述手柄转动装设在转座内,所述手柄的一端开设有轮齿,所述转座的内侧连接装设有弹片;在该装置上手柄的连接处开设有转座,手柄转动至合适角度后,通过转座的啮合卡设作用,可避免手柄转动,防止触碰到手柄影响检测时的稳定性,在检测主体的前表面固定装设有一个防护罩,当该装置在闲置时,装置的检测平台上容易落上灰尘,通过防护罩的作用,可起到防尘的效果,防止灰尘落在装置上对检测结果造成影响,提高了该装置的实用性。
搜索关键词: 一种 方便 调节 半导体 生产 工用 检测
【主权项】:
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