[实用新型]一种固晶机用漏晶检测装置有效
申请号: | 202021460599.4 | 申请日: | 2020-07-22 |
公开(公告)号: | CN212209432U | 公开(公告)日: | 2020-12-22 |
发明(设计)人: | 温炜 | 申请(专利权)人: | 抚州致晶自动化设备有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 南昌贤达专利代理事务所(普通合伙) 36136 | 代理人: | 金一娴 |
地址: | 344000 江西省抚州市临川区科*** | 国省代码: | 江西;36 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型涉及固晶机检测技术领域,且公开了一种固晶机用漏晶检测装置,解决了目前市场上的固晶机用漏晶检测装置安装不便,使用不方便的问题,其包括安装架,所述安装架的顶部固定连接有两个支撑架,两个支撑架的顶部之间活动连接有连接框,连接框的两侧均贯穿有卡杆,两个卡杆的一端均固定连接有按压垫,两个卡杆位于连接框内部的两端之间固定连接有伸缩弹簧,两个卡杆的底部均固定连接有L型卡块,连接框的顶部固定连接有放置框,放置框内腔的顶部安装有检测器,该固晶机用漏晶检测装置结构设计合理,安装拆卸简便,能全面的对固晶机进行实时的检测,方便了企业的使用,提高了整体的实用性。 | ||
搜索关键词: | 一种 固晶机用漏晶 检测 装置 | ||
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造