[实用新型]一种干涉仪测向天线阵列的评估验证系统有效

专利信息
申请号: 202021587562.8 申请日: 2020-08-03
公开(公告)号: CN212905168U 公开(公告)日: 2021-04-06
发明(设计)人: 王宇;王天阳;王祥;魏一平 申请(专利权)人: 无锡国芯微电子系统有限公司
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10;G01V3/12;G01V13/00
代理公司: 无锡华源专利商标事务所(普通合伙) 32228 代理人: 过顾佳;聂启新
地址: 214072 江苏省无锡市建筑西路*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型公开了一种干涉仪测向天线阵列的评估验证系统,涉及微波探测技术领域,该系统包括安装在转台上并连接水平和俯仰两个轴的干涉仪测向天线阵列,干涉仪测向天线阵列包括若干个沿着水平向设置以及俯仰向设置的天线单元,干涉仪测向天线阵列上的各个天线单元通过矩阵开关串联第二放大器接入矢量网络分析仪,矢量网络分析仪还通过第一放大器连接发射天线,发射天线与干涉仪测向天线阵列相对设置;矢量网络分析仪连接主控设备,主控设备连接并控制矩阵开关以及转台;该系统可以评估干涉仪测向天线阵列的测角正确性,有效的帮助前期天线方案的验证和后期系统问题的排查。
搜索关键词: 一种 干涉仪 测向 天线 阵列 评估 验证 系统
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于无锡国芯微电子系统有限公司,未经无锡国芯微电子系统有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202021587562.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top