[实用新型]半导体工艺设备中的基座及半导体工艺设备有效
| 申请号： | 202021604139.4 | 申请日： | 2020-08-05 |
| 公开（公告）号： | CN212934586U | 公开（公告）日： | 2021-04-09 |
| 发明（设计）人： | 高雄 | 申请（专利权）人： | 北京北方华创微电子装备有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/687 | 分类号： | H01L21/687;H01L21/67;C23C16/458 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 彭瑞欣;王婷 |
| 地址： | 100176 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种半导体工艺设备中的基座及半导体工艺设备，其中，半导体设备的基座用于承载衬底，基座包括基座本体和设置在基座本体中用于容纳衬底的容纳槽，容纳槽中设置有支撑部和环形凹槽，支撑部用于支撑衬底，且支撑部与衬底接触的上端面上设置有弧形凹陷；环形凹槽沿容纳槽的内周壁环绕设置在支撑部的周围，支撑部的径向尺寸小于衬底的径向尺寸，支撑部在支撑衬底时，衬底的预设宽度的边缘部分悬于环形凹槽上方。本实用新型提供的半导体设备的基座及半导体设备，能够抑制裂纹的扩大，降低衬底碎裂的概率，从而提高产品的良率及产能。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 工艺设备 中的 基座 | ||
【主权项】：
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
