[实用新型]一种磁环高度和尺寸综合测量设备有效

专利信息
申请号: 202021624473.6 申请日: 2020-08-07
公开(公告)号: CN213041993U 公开(公告)日: 2021-04-23
发明(设计)人: 俞宝清 申请(专利权)人: 宁波兰辰光电有限公司
主分类号: G01S17/08 分类号: G01S17/08;G01S17/86;G01B11/02;G01B11/24
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 315000 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 本实用新型公开了一种磁环高度和尺寸综合测量设备,涉及测量设备设计技术领域,本实用新型包括综合测量设备框架、激光测距仪、视觉测量仪、待测平台以及总控机箱,综合测量设备框架包括激光测距仪固定架以及相机高度调节架,激光测距仪包括滑动电机,激光测距仪固定架一表面设有滑槽,滑动电机一端与滑槽滑动配合,视觉测量仪包括相机固定架,相机固定架一表面与相机高度调节架通过螺纹螺孔连接,综合测量设备框架下表面设有定位孔,待测平台一表面与定位孔旋转配合,待测平台包括传动履带,传动履带一表面与旋转轴滑动配合,本实用新型中,无损测量保证产品生产质量,本发明有效的融合两者的功能,将2台设备综合成一台。
搜索关键词: 一种 高度 尺寸 综合 测量 设备
【主权项】:
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