[实用新型]一种半自动ICT测试治具有效
| 申请号： | 202021675858.5 | 申请日： | 2020-08-12 |
| 公开（公告）号： | CN212932699U | 公开（公告）日： | 2021-04-09 |
| 发明（设计）人： | 伍祥旭 | 申请（专利权）人： | 深圳市月晶鑫电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及ICT测试技术领域，且公开了一种半自动ICT测试治具，包括治具本体，所述治具本体的内壁开设有限位槽，所述限位槽的内部活动连接有滑块，所述滑块的边侧固定连接有套筒，所述套筒的内壁活动连接有齿杆，所述齿杆的底部固定连接有第一电机，所述套筒的顶部固定连接有升降板，所述升降板的底部活动连接有底盖，所述底盖的内壁活动连接有放置板。该半自动ICT测试治具，达到了便于盒盖自动开合的目的，解决了现有的测试治具一般不便于盒盖自动开合的问题，用户在使用治具时，无需手动开合盒盖对进行电路板的取放，降低了工人的劳动强度，减少了测试的时间成本，使得测试效率提高，满足了用户的测试使用需求，优化了治具的实用性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半自动 ict 测试 | ||
【主权项】：
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