[实用新型]一种集成电路IC的磁场测试装置有效
| 申请号： | 202021679043.4 | 申请日： | 2020-08-12 |
| 公开（公告）号： | CN214278349U | 公开（公告）日： | 2021-09-24 |
| 发明（设计）人： | 梁大明 | 申请（专利权）人： | 上海中艺自动化系统有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04;G01R1/02 |
| 代理公司： | 北京科家知识产权代理事务所(普通合伙) 11427 | 代理人： | 宫建华 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区中国(上海)自*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种集成电路IC的磁场测试装置，具体涉及集成电路测试领域，包括活塞型运动气缸，所述活塞型运动气缸的前端设置有气缸安装座，所述活塞型运动气缸的底端设置有万向转接头，所述万向转接头的底部设置有导向连接轴，所述气缸安装座的底部设置有导向支撑座，所述导向支撑座的底部设置有测试位导向轴安装底板。本实用新型通过测试位导轨运动至SOCKET位置，使得测试位导轨中的IC引脚与SOCKET簧片接触，再通过磁铁营造的磁场，便于装置测试芯片在磁场里的效果，改变了测试装置以往对芯片的测试方式，实现了对芯片抗磁干扰能力进行测试的功能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 ic 磁场 测试 装置 | ||
【主权项】：
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