[实用新型]一种架空型芯片检测系统有效
申请号: | 202021731551.2 | 申请日: | 2020-08-18 |
公开(公告)号: | CN213337964U | 公开(公告)日: | 2021-06-01 |
发明(设计)人: | 雷波;刘文平 | 申请(专利权)人: | 湖南长高思瑞自动化有限公司 |
主分类号: | G01R31/52 | 分类号: | G01R31/52;G01R31/28 |
代理公司: | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人: | 赵琴娜 |
地址: | 410000 湖南省长沙市长沙高新开*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 一种架空型芯片检测系统,包括:供电单元,用于提供工作电源;信号采集电路,用于采集被测电路板上多个待测点的电压;集成式连接组件,其一端与信号采集电路的输入端连接,另一端与被测电路板上多个待测点连接;处理器单元,与信号采集电路的输出端连接,用于接收信号采集电路采集的电压并传输至外部设备。本实用新型实施例的架空型芯片检测系统相较于传统的检测方式,不再需要人工进行逐个的排查,可以直接对所有的故障点进行一次性检测,极大的节约了检测时间,有效的提高了生产效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 架空 芯片 检测 系统 | ||
【主权项】:
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