[实用新型]一种半导体激光器的光斑发散角测试系统有效

专利信息
申请号: 202021879859.1 申请日: 2020-08-31
公开(公告)号: CN212391198U 公开(公告)日: 2021-01-22
发明(设计)人: 侯长春;王兴辉;张文广 申请(专利权)人: 中久光电产业有限公司
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00;G01J1/42;H01S5/00
代理公司: 南昌贤达专利代理事务所(普通合伙) 36136 代理人: 金一娴
地址: 330000 江西省南昌市临空经济区*** 国省代码: 江西;36
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摘要: 实用新型公开了一种半导体激光器的光斑发散角测试系统及其测试方法,属于激光器领域,测试系统包括承载件,其用于承载半导体激光器,半导体激光器的输出端连接有光纤;调节装置,其上设置有一夹持器,所述夹持器用于夹紧或松开所述光纤,所述调节装置能够驱动所述夹持器移动;第一升降装置,其用于驱动所述调节装置的升降动作;光功率测试组件,其上设置有光阑,光阑与所述光纤同心设置以使其能够接收全光斑发散角下的光斑能量;第二升降装置,其用于驱动所述光功率测试组件的升降动作;还包括光纤位置标定装置和与其连接的显示屏,所述光纤位置标定装置用于获取光纤的位置信息,所述显示屏用于显示所述光纤的位置信息,测试更加快速精准。
搜索关键词: 一种 半导体激光器 光斑 发散 测试 系统
【主权项】:
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