[实用新型]一种压力芯片全自动测试分档系统有效

专利信息
申请号: 202021911106.4 申请日: 2020-09-03
公开(公告)号: CN212856685U 公开(公告)日: 2021-04-02
发明(设计)人: 朱泽瑞;朱荣惠 申请(专利权)人: 无锡华阳科技有限公司
主分类号: B07C5/02 分类号: B07C5/02;B07C5/34;B07C5/36;B07C5/38
代理公司: 北京盛凡智荣知识产权代理有限公司 11616 代理人: 曹利华
地址: 214000 江苏省无*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种压力芯片全自动测试分档系统,涉及传感器芯片加工检测技术领域,包括上料机构、重力滑轨、测试分选机构、自动收料机构和控制系统;还包括一个带有斜坡的支撑架,所述上料机构设置于所述支撑架顶部的水平工作台上,所述重力滑轨、所述测试分选机构和所述自动收料机构设置于所述斜坡上,且所述上料机构、所述测试分选机构和所述自动收料机构分别受设置于所述支撑架上的所述控制系统控制。本系统不仅结构简单,占用空间小,使用方便,可有效提高检测分选的效率。
搜索关键词: 一种 压力 芯片 全自动 测试 分档 系统
【主权项】:
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