[实用新型]低压变频器老化测试装置有效
| 申请号： | 202021969466.X | 申请日： | 2020-09-10 |
| 公开（公告）号： | CN212459910U | 公开（公告）日： | 2021-02-02 |
| 发明（设计）人： | 张树林;陈万燕;钱永;邓德宽 | 申请（专利权）人： | 成都希望电子研究所有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 610200 四川省成都*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本实用新型公开一种低压变频器老化测试装置，该装置由n台被测变频器、n组LC滤波器、电感、回馈变频器及环网接触器KM1组成。将第一台被测变频器三相输入端连接电网，三相输出端接LC滤波器，再串联接到下一台被测变频器，如此循环，实现级联老化，将最后一台串联被测变频器输出端接LC滤波器，再串联电感后接到回馈变频器输入端，其输出端串接LC滤波器，通过环网接触器KM1连接到电网。本实用新型整个测试系统中无电机，提高了变频器老化效率及老化装置可靠性，降低变频器老化能耗及负载电机维护成本。 | ||
| 搜索关键词： | 低压 变频器 老化 测试 装置 | ||
【主权项】：
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