[实用新型]正交双源双探测器X射线显微镜系统有效
申请号: | 202022007236.1 | 申请日: | 2020-09-15 |
公开(公告)号: | CN212847715U | 公开(公告)日: | 2021-03-30 |
发明(设计)人: | 闫慧龙;李志军 | 申请(专利权)人: | 斯托克斯检测技术(北京)有限公司 |
主分类号: | G21K7/00 | 分类号: | G21K7/00;G01N23/046 |
代理公司: | 北京天方智力知识产权代理事务所(普通合伙) 11719 | 代理人: | 白凯园 |
地址: | 101300 北京市顺义区北务镇*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本实用新型公开一种正交双源双探测器X射线显微镜系统,包括:底座;可移动式设置在底座中部的载物台;可移动式设置的第一射线源组件和第一探测器组件,第一探测器接收由第一射线源形成的扫描图像;固定的第二射线源组件和可移动式设置的第二探测器组件,第二探测器接收由第二射线源形成的扫描图像。通过本实用新型方案,两种焦点尺寸的射线源处于同一平台,实现不同的放大效果,为各种尺寸试件的CT检测提供了一个完整的平台,满足对空间分辨率、工件大小、设备数量的不同要求;可以使用一套控制系统,一套采集分析软件,成本低,效果佳,维护成本低,数据直观。 | ||
搜索关键词: | 正交 双源双 探测器 射线 显微镜 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
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