[实用新型]一种TO测试底座有效
| 申请号： | 202022015690.1 | 申请日： | 2020-09-15 |
| 公开（公告）号： | CN212965228U | 公开（公告）日： | 2021-04-13 |
| 发明（设计）人： | 王永虎;刘倚红 | 申请（专利权）人： | 武汉敏芯半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01M11/00 |
| 代理公司： | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 | 代理人： | 许美红 |
| 地址： | 430014 湖北省武汉市东湖新技术开发区金融港*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种TO测试底座，该测试底座包括5个测试孔，5个测试孔呈正五边形排列，其中1个测试孔为长测试孔，其余4个测试孔为圆测试孔；或其中4个测试孔为圆测试孔，呈等腰梯形排列，第5个测试孔为长测试孔，位于等腰梯形下底的中点处。此外，所有测试孔的孔径均远大于LD‑TO的管脚直径，测试底座内部的测试孔呈倒圆台或倒圆锥形；长测试孔为长圆形、长椭圆形或长条形。本实用新型的测试底座能够兼容现有的两种测试底座，适用这两种LD‑TO的测试和老化，节省生产成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 to 测试 底座 | ||
【主权项】：
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