[实用新型]一种浅沟道超结MOS半导体功率器件有效
申请号: | 202022095236.1 | 申请日: | 2020-09-22 |
公开(公告)号: | CN212907744U | 公开(公告)日: | 2021-04-06 |
发明(设计)人: | 陈利;陈译;陈彬 | 申请(专利权)人: | 厦门芯一代集成电路有限公司 |
主分类号: | H01L29/08 | 分类号: | H01L29/08;H01L29/06;H01L29/78 |
代理公司: | 厦门荔信航知专利代理事务所(特殊普通合伙) 35247 | 代理人: | 苏娟 |
地址: | 361000 福建省厦门市中国(福建)*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种浅沟道超结MOS半导体功率器件,该器件包括:N型重掺杂衬底,在N型重掺杂衬底上的N型轻掺杂漂移区,在N型轻掺杂漂移区上的N型重掺杂区和P型阱区,该N型重掺杂区设置在P型阱区中间,在P型阱区上且靠近N型重掺杂区的N型轻掺杂区,在N型轻掺杂区上的N型重掺杂源区,在远离栅结构区的N型重掺杂源区一侧相邻接的P型重掺杂源区,在P型阱区和N型重掺杂区上的栅结构区,该栅结构区采用多晶硅材料和高K绝缘材料,N型/P型重掺杂源区引出源极,栅结构引出栅极,N型重掺杂衬底下表面引出漏极。该器件通过N型轻掺杂区可以有效地减小栅沟道的比导通电阻,通过超结结构可以提高该器件的开关速度。 | ||
搜索关键词: | 一种 沟道 mos 半导体 功率 器件 | ||
【主权项】:
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