[实用新型]芯片试验装置及系统有效
| 申请号： | 202022152722.2 | 申请日： | 2020-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN213337905U | 公开（公告）日： | 2021-06-01 |
| 发明（设计）人： | 李文文;袁瑞铭;周丽霞;刘科学;易忠林;谭志强;郭皎;刘岩;姜振宇;徐占河;刘影;鲁观娜;张保亮;郑思达;高帅;王亚超;张晓丽;刘丽;卢炽华 | 申请（专利权）人： | 国网冀北电力有限公司计量中心;国家电网有限公司;中国电力科学研究院有限公司;威胜集团有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 薛平;周晓飞 |
| 地址： | 102208 北京市昌*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种芯片试验装置及系统，涉及半导体技术领域，该装置包括：电源插装电路板、器件测试电路板、器件插装电路板和连接件；电源插装电路板与器件测试电路板通信连接；器件测试电路板通过多个连接件分别和多个器件插装电路板通信连接；器件插装电路板用于与待测芯片通信连接，获取待测芯片的测试参数，并将测试参数通过连接件发送至器件测试电路板；器件测试电路板用于接收测试参数，并将测试参数发送至测试模块，以使测试模块生成芯片测试结果。本实用新型可以通过多个器件插装电路板同时连接多个待测试芯片，获取芯片试验过程的测试参数，操作简单，测试效率高，适用于多种产品的芯片测试。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 试验装置 系统 | ||
【主权项】：
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