[实用新型]同轴测试探针模组及其测试装置有效

专利信息
申请号: 202022157104.7 申请日: 2020-09-27
公开(公告)号: CN213689716U 公开(公告)日: 2021-07-13
发明(设计)人: 李定宗 申请(专利权)人: 嘉联益电子(昆山)有限公司;嘉联益科技(苏州)有限公司
主分类号: G01R1/073 分类号: G01R1/073
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 王玉双;张燕华
地址: 215300 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种同轴测试探针模组及其测试装置,同轴测试探针模组包括金属空心基座、探针、连接部以及测试部。探针穿设于金属空心基座中,各探针分别具有连接端及测试端,各探针的测试端穿设于金属件,使探针的测试端的末端凸出于金属件。各探针的连接端分别连接至一连接部。测试部具有相对设置的第一表面及第二表面,探针的测试端自第二表面穿入测试部,直至探针的金属件位于测试部中,且探针的测试端的末端露出于第一表面。本实用新型通过同轴的结构,使探针有效地达到阻抗匹配,并取代板对板连接器公母头对扣的测试方式,毋须承担连接器压伤与零件故障的风险。
搜索关键词: 同轴 测试 探针 模组 及其 装置
【主权项】:
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