[实用新型]一种硅漂移探测器与金属氧化物半导体场效应晶体管集成器件有效

专利信息
申请号: 202022222153.4 申请日: 2020-09-30
公开(公告)号: CN212342629U 公开(公告)日: 2021-01-12
发明(设计)人: 刘曼文;李正 申请(专利权)人: 湖南正芯微电子探测器有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 代理人: 武君
地址: 411101 湖南省湘潭市*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 实用新型公开了一种硅漂移探测器与金属氧化物半导体场效应晶体管集成器件,包括:硅体;p型硅体,位于硅体内,且上表面与硅体的上表面齐平;栅极设置于所述二氧化硅层上,且位于p型硅体的上方;源极、漏极分别设置于栅极的两侧,位于p型硅体内且与p型硅体的表面齐平;p型重掺杂区,设置于硅体内,围绕金属氧化物半导体场效应晶体管且与p型硅体的表面齐平;阳极收集电极,位于所述硅体内,与p型重掺杂区间隔设置且与p型硅体的表面齐平;阴极环,位于硅体内,与阳极收集电极间隔设置且与p型硅体的表面齐平;二氧化硅层,设置于硅体上,与硅体接触;通过刻蚀二氧化硅层露出阴极环、阳极收集电极、p型重掺杂区、源极、漏极。
搜索关键词: 一种 漂移 探测器 金属 氧化物 半导体 场效应 晶体管 集成 器件
【主权项】:
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