[实用新型]一种高精度检测RFID芯片性能平台有效
| 申请号： | 202022370843.4 | 申请日： | 2020-10-22 |
| 公开（公告）号： | CN212905292U | 公开（公告）日： | 2021-04-06 |
| 发明（设计）人： | 陈孝骥 | 申请（专利权）人： | 上海贯众信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/02;G01R1/04 |
| 代理公司： | 上海互顺专利代理事务所(普通合伙) 31332 | 代理人： | 成秋丽 |
| 地址： | 201108 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种高精度检测RFID芯片性能平台，包括底台，所述底台顶部连接有放置台，所述放置台顶侧挖设有第一矩形凹槽，所述第一矩形凹槽内腔中设有第一螺纹杆，所述第一矩形凹槽顶部固定连接有定位框架，所述第一矩形凹槽内壁之间滑动连接有放置板，所述放置板顶部挖设有放置槽，所述放置台右侧设有第一调节钮，所述底台左侧设有第二调节钮，所述底台顶部挖设有第二矩形凹槽，所述第二矩形凹槽内部设有第二螺纹杆，所述第二矩形凹槽内壁之间滑动连接有支撑板，方便各种仪器在定位框架上方对芯片进行检测，使仪器检测的位置更加的精确，适用范围大大提高，实用性进一步加强。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高精度 检测 rfid 芯片 性能 平台 | ||
【主权项】：
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