[实用新型]一种薄膜电容产品外观瑕疵检验装置有效
| 申请号： | 202022435672.9 | 申请日： | 2020-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN213516920U | 公开（公告）日： | 2021-06-22 |
| 发明（设计）人： | 刘骏;张啸宇 | 申请（专利权）人： | 深圳宇骏视觉智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/89 | 分类号： | G01N21/89 |
| 代理公司： | 深圳市海盛达知识产权代理事务所(普通合伙) 44540 | 代理人： | 赵雪佳 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市明区凤凰街道塘家社区光明高*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种薄膜电容产品外观瑕疵检验装置，其包括操作台和支架，所述操作台上设有进料装置和转盘，所述转盘上设有多个产品位，所述进料装置的物料出口对着转盘，所述转盘的外侧沿圆周方向设有底部外观检测位、薄膜电容外观检测位、良品出料通道和不良品出料通道；所述底部外观检测位在位于转盘产品位的下方设有底部外观检测摄像头，所述支架位于转盘的一侧，所述支架上设有用于检测薄膜电容顶面、正面、背面、左侧面、右侧面、引线正面、引线背面外观的多个不同角度的摄像头；所述良品出料通道、不良品出料通道的上方或一侧分别设有出料机构。采用本实用新型的技术方案，极大的提升了检验灵活性与准确性，并且易于更新和维护。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 薄膜 电容 产品 外观 瑕疵 检验 装置 | ||
【主权项】：
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