[实用新型]一种方形掩膜版玻璃基片平面度检测仪有效

专利信息
申请号: 202022441553.4 申请日: 2020-10-29
公开(公告)号: CN212931352U 公开(公告)日: 2021-04-09
发明(设计)人: 校微娜 申请(专利权)人: 上海禾本电子科技有限公司
主分类号: G01B11/30 分类号: G01B11/30
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 200030 上海市徐*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型公开了一种方形掩膜版玻璃基片平面度检测仪,包括固定底座,所述固定底座的上表面两侧分别固定连接有支撑架,两个所述支撑架的顶部军固定连接有移动导轨,所述固定底座的内部开设有安装槽,所述安装槽的内侧活动套接有第一滚轴丝杆;通过设计的固定卡套、固定齿轮、活动卡块和固定轴,便于该装置在使用过程中,通过移动开关控制两侧活动卡块与固定齿轮啮合连接,调节第一滚轴丝杆的转向与固定,然后通过第一滚轴丝杆丹东活动块将玻璃基片固定夹持,避免玻璃基片在检测过程中出现移动影响检测效果,从而解决了现有装置在使用时无法固定影响检测精准度的问题。
搜索关键词: 一种 方形 掩膜版 玻璃 平面 检测
【主权项】:
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