[实用新型]一种光学元器件厚度的测量装置有效
| 申请号： | 202022478251.4 | 申请日： | 2020-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN213748191U | 公开（公告）日： | 2021-07-20 |
| 发明（设计）人： | 冯辉 | 申请（专利权）人： | 西安杰瑞测量科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/06 | 分类号： | G01B5/06;G01B5/00 |
| 代理公司： | 西安智财全知识产权代理事务所(普通合伙) 61277 | 代理人： | 张鹏 |
| 地址： | 710000 陕西省西安市莲*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及光学元件技术领域，且公开了一种光学元器件厚度的测量装置，包括防护壳，所述防护壳的内顶壁固定连接有固定块，所述固定块的底部固定连接有电动推杆，所述电动推杆的一端固定连接有连接块，所述防护壳的内侧壁固定连接有隔板，所述隔板的顶部固定连接有安装块。该光学元器件厚度的测量装置，达到了该光学元器件厚度的测量装置固定效果好的目的，解决了一般光学元器件厚度的测量装置固定效果不好的问题，电动推杆将连接块与垫子往下推动，对光学元其进行纵向固定，然后将活动杆从滑槽中抽出，找到合适的位置插入槽中，对光学元器件进行横向固定，两个方向对光学元器件进行固定，使测量更加的精准，满足需求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学 元器件 厚度 测量 装置 | ||
【主权项】：
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