[实用新型]氮化镓半导体器件封装件有效

专利信息
申请号: 202022494737.7 申请日: 2020-11-02
公开(公告)号: CN213716885U 公开(公告)日: 2021-07-16
发明(设计)人: 姚卫刚;黄敬源 申请(专利权)人: 英诺赛科(珠海)科技有限公司
主分类号: H01L23/367 分类号: H01L23/367;H01L23/48;H01L29/417;H01L29/267;H01L29/778
代理公司: 珠海智专专利商标代理有限公司 44262 代理人: 薛飞飞;黄国豪
地址: 519000 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型提供一种氮化镓半导体器件封装件,氮化镓半导体器件封装件包括基板、密封材料和氮化镓半导体器件;基板上设置有源极端子、栅极端子和漏极端子;氮化镓半导体器件包括硅衬底、外延层、源极金属、栅极金属和漏极金属;外延层制作在硅衬底上,源极金属、栅极金属和漏极金属均位于外延层上,硅衬底的背面设置有金属层;硅衬底和外延层上贯穿地设置有穿硅通孔,穿硅通孔内设置有电气互连件,电气互连件将源极金属与金属层电连接,金属层与源极端子电连接;漏极金属连接有第一桥接铜片,第一桥接铜片穿过密封材料后与漏极端子电连接;栅极金属与栅极端子电连接。氮化镓半导体器件封装件采用硅衬底且导热性能好。
搜索关键词: 氮化 半导体器件 封装
【主权项】:
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