[实用新型]一种掩膜版表面缺陷检测装置有效

专利信息
申请号: 202022495825.9 申请日: 2020-11-03
公开(公告)号: CN213715069U 公开(公告)日: 2021-07-16
发明(设计)人: 校微娜 申请(专利权)人: 上海禾本电子科技有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 200030 上海市徐*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型公开了一种掩膜版表面缺陷检测装置,包括设备本体,所述设备本体内腔的顶部固定连接有丝杠,所述丝杠的表面滑动连接有进步电机,所述进步电机的底部固定连接有电动伸缩杆,所述电动伸缩杆的底端固定连接有激光发生器,所述激光发生器的底部固定连接有激光扫描器。通过设计的丝杠、进步电机、电动伸缩杆、激光发生器、激光扫描器等结构之间的相互配合下,可以对掩膜版表面的缺陷进行检测,增加设备对掩膜版表面缺陷检测的使用效果,也使得设备的实用性能增加,有效的解决了设备对掩膜版检测的工作效率下降设备的问题。
搜索关键词: 一种 掩膜版 表面 缺陷 检测 装置
【主权项】:
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