[实用新型]一种半导体模具零件的检测治具有效

专利信息
申请号: 202022577864.3 申请日: 2020-11-10
公开(公告)号: CN213632059U 公开(公告)日: 2021-07-06
发明(设计)人: 王华萍 申请(专利权)人: 深圳轩四海实业有限公司
主分类号: G01B21/30 分类号: G01B21/30
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518000 广东省深圳市龙华区大浪街道浪*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种半导体模具零件的检测治具,包括底座、安装立杆、检测探头和定位组件,安装立杆垂直固定在底座上表面,检测探头与安装立杆滑动连接,定位组件可拆卸式安装在底座顶部,所述定位组件包括固定板、双向螺杆、定位架和限位杆,两个“U”型的所述定位架套设在底座顶部,且端部延伸至底座前后表面,所述固定板通过螺钉固定在底座前表面,双向螺杆转动安装在固定板内,且两端与定位架转动连接,两个所述限位杆垂直固定在固定板侧面,且端部活动穿过定位架露在外侧;本实用新型通过设置有定位组件,既不影响加工件表面粗糙度检测,又可对加工件进行定位,降低加工件偏移或者移动影响粗糙度检测的几率,间接增加加工件检测精度。
搜索关键词: 一种 半导体 模具 零件 检测
【主权项】:
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