[实用新型]一种芯片老化试验箱有效
| 申请号： | 202022595898.5 | 申请日： | 2020-11-11 |
| 公开（公告）号： | CN213957431U | 公开（公告）日： | 2021-08-13 |
| 发明（设计）人： | 杨文祥 | 申请（专利权）人： | 苏州诺威特测控科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 苏州科仁专利代理事务所(特殊普通合伙) 32301 | 代理人： | 郭杨 |
| 地址： | 215100 江苏省苏州市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种芯片老化试验箱，包括具有高温试验腔的箱体、转动设置于所述箱体上的箱门、控制单元，其特征在于，所述箱门与所述箱体之间设置有电子式门吸锁，所述箱门与/或所述箱体上设置有通过采集高温试验腔内温度从而控制所述电子式门吸锁的温度感应装置，所述温度感应装置与控制单元输入端电连接，通过在高温试验箱上设置电子式门吸锁，采用电子式控制方式开关箱，使用方便；同时设置温度感应装置采集高温试验腔内温度，控制门吸锁的开关，对箱门开闭设置高温保护限制，避免在高温状态下打开箱门引起对人员的烫伤，提高安全性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 老化试验 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州诺威特测控科技有限公司，未经苏州诺威特测控科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202022595898.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种饲料生产用缓冲仓
- 下一篇：一种塑料小球分离型振动筛
